數(shù)字式四探針檢測儀 型號：HHY8-SZT-2000
HHY8-SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀
半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻行測量，可以從10-6--105Ω—cm量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質量監(jiān)測的需儀器。