便攜式電阻測(cè)定儀/便攜式電阻率測(cè)試儀? 型號(hào)：HAD-KDY-1A

HAD-KDY-1A便攜式電阻測(cè)度儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的際及標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定*。
它主要由電器測(cè)量份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。
為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測(cè)量電流及阻率。樣品測(cè)試電流由精寬的恒流源提供，隨時(shí)可行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來(lái)分材料也可以用來(lái)作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1～100Ω#8226cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量瓿差不過(guò)±。